Расширенный поискМикроскоп Olympus BX53M с камерой
Универсальный прямой оптический микроскоп исследовательского класса. Может использоваться практически во всех областях науки и техники. Современная металлография предъявляет все большие требования к инструментам исследования. Olympus BX53M отличается применением нового метода контрастирования – направленное темное поле (DDF), а также возможностью применять два метода контрастирования единовременно (MIX).
Рамановский анализатор R532
 |
Рамановский экспресс-анализатор используется при проведении петрологических и структурных исследований, а также для идентификации рудных, в том числе - магнитных минералов горных пород в рамках петро- и палеомагнитных исследований. |
Сканирующий электронный микроскоп TESCAN MIRA LMS
Cканирующий электронный микроскоп (СЭМ) с автоэмиссионным катодом Шоттки TESCAN MIRA LMS (4-ое поколение). СЭМ имеет диапазон увеличений от 2 до 1 000 000 крат и оборудован энергодисперсионным (EDX) спектрометром Ultim Max 65 c интегрированным программным обеспечением AZtecLive Automated (Oxford Instruments) с возможностью определения элементов от бериллия (4) до калифорния (98). Микроскоп также имеет детекторы вторичных электронов (SE), обратно-отражённых электронов (BSE) и катодолюминесценции (CL) с расширенным спектральным диапазоном (185-850 нм). Для напыления углеродного покрытия и нанесения металлических покрытий на образцыиспользуется автоматическая напылительная установка Q150R ES Plus (Quorum Technologies).
Оптический микроскоп ADF E300 для трекового датирования
Оборудование предназначено для трекового датирования апатита и циркона, и петрографии. Основное характеристики и оснащение: галогенное освещение для отраженного и проходящего света; объективы 5X, 10X, 20X, 50%, 100Х; предметный стол для отраженного и проходящего света; камера для микроскопа ADF ULTRA09: разрешение 9.0 МП; размер матрицы 1"; количество кадров в секунду: 1204096×2160, 602048×1080; моторизованный предметный столик.
